fituici teorie 5

Comp ciclului de viata al produsului: cerintele clientului,design,productie,operatie in camp,refolosire.

Calitate: caracteriastica unui produs sau serviciucare se refera la abilitatea de a satisface necesitati prestabilite sau implicite.

Componentele trilogiei:palinificarea calitatii:deszv de produse si procese necesare pt a asigura cerintele clientilor; controlul calitatii:asigurarea atingerilor tintelor referitoare la produs si proces; inbunatatirea calitatii: obtinerea unui nivel de perf neatin

Fiabilitate (calitativ)-aptitudinea unui sistem de a indeplini corect functiunile prevazute, pe durata unei perioade de timp, in conditii de exploatare specificate.

Fiabilitate (cantitativ) –probabilitatea ca sistemul sa-si indeplineasca corect functiunile prevazute (la nivel de performante stabilite), pe durata unei perioade de timp stabilite, in conditii de exploatare specificate.

Fiabilitate previzionala: acea caracteristica de fiabilitate care este determinata prin calcul pe baza cunoasterii structurii unui sistem (echipament) a nivelului solicitarilor in exploatarea acestuia precum si a nivelului de fiabilitate nominala a elementelor componente.

Fiabilitate parametrica:fiabilitatea stabilita pe baza statisticii evenimentelor corespunzatoare momentelor t_d.

Indicatori de fiabilitate

1.Probabilitatea de buna functionare

R(t_i)=(N₀-n)/N₀=N/N₀    n-defecte

2.Probabilitatea de defectare

F(t)=1-R(t_i)=n/N₀  ;  R(t)+F(t)=1

3.Functia de frecventa sau intensitatea distributiei

f(t)-frecv relativa a caderilor Δn_i in intervalul Δt_i adica

Δn_i=N(t)-N(t+Δt) deci f(t_i)=Δn_i/(Δt_i *N₀) unde Δt_i *N₀ – numarul de ore de incercare

F(t)=§[0 la t]f(t)dt

R(t)=1-§[0 la t]f(t)dt=§[t la ∞]f(z)dz

4.Rata caderilor

z(t)=f(z)/R(z) ; z(z_i)= Δn_i / Δt_i *N [h^-1] ; R(t)=e^{-§[0 la t]z(t)dt} 

5.MTBF – media duratelor de buna functionare

MTBF=m={Σ[i=0 la N₀]t_fi }/N₀

Daca se imparte axa timpului in intervale de timp egale cu Δt iar in intervalul Δt=(t_i-1,t_i) cad k_i , i=1la c, produse atunci

m= Σ[i=1 la c]t_i k_i / Σ[i=1 la c]k_i =T/N₀

m=§[0 la ∞]tf(t)dt=§[0 la ∞]R(t)dt

6.Dispersia distributiei 

σ²=§[0 la ∞](t-m)²f(t)dt=D

Abaterea medie patratica

σ=√(Σ[i=1 la N₀](t_i-m) )/ (N₀-1)  <- radical din tata putza asta

σ=√D

OBS m=1/z  ; R(t)=e^1-zt 

Modele matematice

Legea de distributie normala Gauss – se manifesta la sfarsitul perioadei de viata , zona III

f(t)=e^{-(t-m)^2/2*σ^2}/σ*√2π

Legea de distributie exponentiala – utila pt zona II, zona de functionare normala, utila pt prognoza; descrie scaderea numarului supravietuitorilor din defectari aleatoare; cea mai utilizata.

f(t)=z*e^-zt , z-const => R(t)=e^-zt

MTBF=1/z ; σ²=1/z² 

Legea de distributie Weibull – cea mai generala, se aplica cand nu se pot aplica celelalte

f(t)=(β/α)*(1-γ)^β-1  * e^{-(t-γ)^β /α}  unde α-param de scara; β-param de forma; γ-param de loc.

Mentenanta – ansamblul tuuror actiunilor tehnico-organizatorice efectuate in scopul mentinerii sau restabilirii unui produs in starea necesara indeplinirii functiei cerute.

Mentenabilitate: aptitudinea unui produs ca in conditii date de utilizaresa fie mentinut sau restabilit in starea de a-si indeplini functia specificata.

Indicatori de mentenabilitate

μ(T) – rata reparatiei ;M(tr)=1-e^{-∫[0 la tr] μ(t)dt}  ;tr-timp de restabilire

MTR=Σ[i=1 la r]t_i  /r  - media timpilor de reparatie (coresp MTBF)

Pt. μ(tr)-const=μ , μ=1/MTR.

Disponibilitatea – aptitudinea unui produs de a-si indeplini functia specifica, sub aspectele combinate de mentenabilitate si fiabilitate si organizare a actiunilor de mentenanta, la un moment dat sau intr-un interval de timp specificat.

A(t)=R(t)-F(t)*M(t).

Coeficient de disponibilitate : k_A=MTBF/(MTBF-MTR)

Coeficient de indisponibilitate : k_IN=MTR/(MTBF+MTR)

Proportia disponibilitatii : k_D=MTR/MTBF

Coeficientul (proportia) de utilizare : k_U=MTBF/T_E

Mediu de inginerie concurenta.- metoda sistematica de proiectare integrata si concurenta a unui produs si a proceselor asociate incluzand constructia si suportul necesar .

La dezv unui produs sunt luate in considerare toate elem ciclului sau de viata, incepand de la specificatii pana la distrugerea sa incluzand : calitatea, programarea costurilor, necesitatile utilizatorilor.

Echipa de soc: persoane din diferite departamente: *reducerea timpului de proiectare; *imbunatattirea productivitatii proiectantilor; *exploatarea complexitatii chip-urilor.

Clasificari ale defectelor.

-dupa localizare: *hardware(de memorie, de UCP, pe Bus, de comunicatie); *sofware (de initializare, de asignare, de control al fluxului, de sistem, de functionare (ale unor functii), de documentare);

-dupa gradul de abstractizare: *la nivel electric; *la nivel de poarta (TTL); *la nivel de registru de transfer; *la nivel de sistem; *la nivel de retea.

Modele de defect hardware: *blocat-la (singulare sau multiple); *scurturi (punti); *blocat-pe si blocat-la deschidere; *intarziere la crestere si la descrestere; *propagarea unor defecte dintr-un punct in altul; *defect de tranzitie de stare singulara; defect de cuplaj (se manifesta la memorii); *defecte functionale.

Legarea modelelor de defect : *in functie de unitate subtest-tinta. Depinde de: tehnologie, de tipul unitatii subtestate, chip, placa, memorie, microprocesor. *in functie de uneltele soft disponibile; *in functie de echipamentele disponibile.

Av. modelului stock-at:*este o metrica; *este independent de tehnologie; *usor de utilizat; *multe produse soft de tip CAD stiu sa-l foloseasca.

Punct de observabilitate: este un punct al unitatii de subtest unde privind dinafara se poate vedea o diferenta intre comportamentul masinii bune si a celei defecte.

Eroarea: un comportament diferit al masinii bune fata de cel al masinii defecte intr-unul din punctele de observare datorita existentei unuia sau mai multor defecte active.

Efectele erorilor:*poate cauza defectarea sistemului:-defectari totale(sistemul trece intr-o stare nefunctionala), -defectari partiale(sistemul este inca partial functional); *posibilitatea de a fi detectate: -de un mecanism de detectie a erorii(in timp ce sistemul functioneaza), -de o sesiune de test; *eroarea respectiva sa nu aiba nici un efect: -daca s-a scris peste si eroarea a disparut, -este neimportanta din punct de vedere al sistemului, -reprezinta un hazard functional.

ISO: 9001- pt asig calitatii in proiectare, dezvoltare, productie, instalare si service.

*9002-pt asig calitatii in productie, instalare, service. *9003-pt asig calit in inspectia finala, testare.

Asigurarea calitatii: toate acele actiuni planificate si sistematice, necesare furnizarii unei sigurante adecvate prin care un produs sau un serviciu va satisface cerintele calit.

Sistem de calitate:struct organizatorica responsabilitatii, proceduri, procese si resurse pentru implementarea manag de calitate.

 

Def .Doua masini M=(I,O,δ,λ,S₀) si M’= (I’,O’,δ’,λ’,S₀’) sunt echivalente ó pt toate intrarile si pt toate cuplurile de stari care pot fi obtinute iesirile sunt egale.

Teorema. Doua masini cu stari finite sunt echivalente ó iesirile masinii produs Mp sunt egale cu 0 pt toate scventele de intrari.Fiind date 0 masini M si M’(unde M cu defect si M’ fara) un defect este detectabil ó M si M’ nu sunt echivalente.

Consecinte.1)Conditia Op=0 (iesirile masinii produs) trebuie sa fie verificata pt toate starile ce pot fi atinse de masina produs si pt toate intrarile primare posibile. 2)verificarea echivalentei intre cele 2 masini este astfel redusa la: a) gasirea tuturor starilor pe care le poate avea Mp (traversare); b)pt fiecare dintre stari , pt orice combinatie de intrari Op=0.

Clasificare.Dupa directia de cautare: traversare: -inapoi;-inainte;-mixta.Dupa ordinul cautarii.

Metode de determinare a echivalentei.

1.    identitatea combinationala – verifica echivalenta a 2 masini (starile masinilor)

2.    identitatea starilor care se pot obtine – calculeaza starile pt fiecare dintre cele 2 masini

3.    traversarea masinii produs

4.    generarea unui vector de test

Metode bazate pe algoritmi genetici.(AG)

-mimeaza evolutia proceselor din natura

-potriviti pt probleme de cautare.

Operatori de reproducere :-cross-over; - mutatie.

Indivizii selectati: selectia este prop cu calitatea lor.

APTG bazati pe AG – Criss; -Dac’94; -Gatto

Av/Dezav: +manipularea unor circuite mari; +competitive cu APTG bazate pe metode topologice; +foarte flexibila; -mai putini eficiente.

Defectiunea:incetarea aptitudinii unui sistem de a-si ideplini functia specificata.

Defectiune fizica: def ce poate aparea in str fizica a unui sistem si in general nu este numarabila ca tip, localizare si moment de aparitie.

Defect: un model al unei defectiuni fizice care face aceasta defectiune numarabila si atfel tratabila.

Defect de activare: un defect e activat cand apare o comportare diferita intr-un anumit punct intre masina buna si cea defecta.

Punct de obervabilitate: punct din unit sub test unde privind din afara se poate vedea o diferenta iontre comportamentul masinii bune si cea defecta.

Eroarea: un comportament diferit al masinii bune fata de masina defecta in cel putin un punct de observabilitate datorita existentei uneia sau mai multor defecte activate.

Latenta defectului: intervalul de timp scurs intre aparitia defectiunii si aparitia erorii corespunzatoare ei.

Defect detectat: daca reaspunsul produs este diferit de raspunsul asteptat in circ faa defect.

Ex de defecte: specificatii incomplete, componente proaste, trasee incorecte, de fabricatie, fizice, etc.

Simularea defectelor – consta in simularea circuitului in prezenta defectului. Comparand rezultatele (circ cu defect si cele fara defect) se pot determina defectele determinate de testul T. Scopuri: *analiza testabilitatii; *calculul gradului de acoperire a defectului; *constructia dictionarului de defect pt diagnoza post-test; *analiza operatiilor circuitului in prezenta defectelor (important in sist de inalta fiabilitate).

Complexitate – simularea cu defect necesita pt orice vector de intrare simularea a f+1 circuite. Pt un circ cu n porti simularea unui vector de intrare este proportionala cu n. Operatia de simulare a unui defect este proportionala cu n².

Simulare cu defect paralela : *fiecarui nod al circuitului i se asociaza un cuvant; *fiecarui bit al cuvantului ise asociaza un defect: primul bit reprezinta circuitul fara defect. Pentru fiecare nod, noua valoare poate fi calculata intr-un singur ciclu masina utilizand operatii logice. Daca m este dimensiunea cuvantului , atunci pot fi simulate m defecte. Sunt necesare f(m) simulari.

Simularea cu defect seriala(propagarea defectelor singulare) : pt fiecare defect se face o simulare a circ fara defect pt fiecare circ cu defecte.

Simulare cu defecte deductive : este bazata pe faptul ca activitatea defectului (procentul de elem unde val din circ cu defect difera de circ fara defect) este foarte mica 1-5% . In simularea deductiva sunt pastrati doar bitii de pozitie utilizati ca nume al defectului care sunt diferiti de valoarea buna.

Av/dezav: +pt orice circ defect sunt simulate doar acele moduri unde se pp ca valorile sunt diferite de cele din circ bun. – manipularea listelor costisitoare; - limitat in practica.

Simulare cu defect concurenta : pt un defect explicit intr-un nod este pastrata o lista de stare a nodului care cuprinde: - valorile intrarilor, iesirilor si starile interne.

Av/dezav: +eficienta; +acuratete in tratarea valorilor;+ se pot folosi simulatoare pt mai multe nivele; - consum mare de memorie.

Clasif def dpdv al locatiei si abstractizarii: locatiei=hardwaew si software siabstract=nivel electric,al portii, al registrului, al sistemului si al retelei.

Tehnici de generare automata a vectorilor de test .A.T.P.G.

1)  Arhitectura unui sistem A.T.P.G.

2) Planul de test .

3) Clasificarea sistemelor A.T.P.G.

1) Este compus din : descrierea circuitului ;managerul de defecte , lista de defecte redusa generatorul de vectori de test ( produce vectori de test – apreciaza acoperirea defectelor ).

2) cuprinde un nr de pasi :

pas1 – identificarea setului defectelor finite --> lista de defecte completa

-unelte utilizate : generator de lista de defecte – una dintre componentele managerului de defecte ;

pas2 - identificarea setului minim de defecte finite distincte ; unealta : minimizor de defecte .

pas3 – analiza testabilitatii: obiectivele acestui pas sunt :

-se estimeaza efortul necesar pt. testarea UUT la lungimea cuvantului de vector de test , gradul de acoperire al defectelor, timpul consumat de unitatea centrala ;

-identificarea zonelor dificil de testat

unelte :analizorul de testabilitate

pas4 – se genereaza un set initial de vectori de test->minimal aleator

pas5 – actualizarea listei defectelor detectate

   Simulatorul cu defect – pt. toate testele se face o simulare logica ,dupa care se forteaza o linie la zero , se aplica testul si priveste in punctul de obs. daca nu cumva se sesizeaza o diferenta fata de master .

pas6 - genereaza un set de vectori de test pt. a acoperi defectele neacoperite .

  -se face de catre un A.T.P.G.: 1)selectia defectelor finite ,2)generarea vectorului , 3)actualizarea listei defectelor si a gradului de acoperire

pas7 – minimizarea setului de vectori de test prin compactare

Clasificarea A.T.P.G.Generatoarele de teste sunt algoritmi unelte care se pot clasifica dupa

-natura circ.tinta –combinationale si secventiale

- strategia de generare de teste :structurala ,functionala , mixta ,bazata pe simulare ;

-dupa arhitectura gazda :monoprocesor ,paralele si sisteme distribuite

Clasif ATPG dupa arhitectura gazda:  monoprocesor, paralele si distribuite.

Tehnicile structurale : au la baza cunoasterea topologiei circuitului.Genereaza vectori de test prin excitarea si propagarea valorilor logice in circuit. Pt. circ. combinationale aceasta tehnica A.T.P.G.e foarte des folosita .  

Politica de calitate:totalitatea intentiilor privitoare al calitatea si directia unei intreruperi in ceea ce priveste calitatea exprimata formal in managementul de varf.

Produs;rezultatul unei avtivitati sau proces.

Ingineria concurenta:metoda sistematica de proiectare integrata si concurenta a unui produs si a proceselor asociate incluzand realizarea sa.La dezv unui produs se considera toate elem ciclului sau de viata, de la specificatii la distrugere incluzand calitatea, programarea costurilor, necesitatile utilizatorilor.

Verificare: proc prin care se determina daca un produs aflat intr-o anumita faza a sist respecta sau nu cerintele stabilite in timpul fazelor anterioare.

Validare: proc de evaluare al sist la sfarzitul proc de evaluare prin care se asigura ca sist respecta cerintele predefinite.

Testare: -setul de operatii care poate spune daca o unitate fabricata lucreaza corect in concordanta cu specificatiile sale sau nu.

Testabilitate: -capabilitatea unui produs de a fi testat satisfacator cu un set de constrangeri date in termenii de calitate, cost si timp. –capabilitatea unui proiect de a garanta ca produsul final va putea fi testat satisfacand un set de constrangeri date in termenii de calitate, cost si timp.

Design pt testabilitate: verificarea logicii pt a face produsul usor testabil.

Sinteza testabila:sinteza automata care considera testabilitatea ca o constrangere a proiectarii.

Tehnici de testare: testare off-line:realiz atunci cand sistemul e oprit si testare on-line atunci cand sistemul este pornit(in timpul funct normale).

Avantajele testului structural:Avantaje:instrumente disponibile pt generarea automata;o acoperire buna a defectelor;aptitudini de diagnosticare;independent de design. Dezavantaje: se pot aplica numai daca se stiu defectele apropierii.

Testare finala: -minimazarea nivelului defectiunilor prin identific unit defecte si diagnoza defectarilor si localizarea.

Pasii testarii finale: minimizeaza nivelul defectului prin identificarea unitatilor defecte; se face o diagnoza a timpului de defect si locatia lui; asigura imbunatatirea procesului de productie si a fazei de test.

Reducerea costului testarii: testam la nivel de subsistem, costul testarii depinde de complexitatea metodei; sa consideri testarea ca parte a specificarii; stabilitatea clara a defectului tinta(ceea ce doresti sa detecetzi).

Motive la cost mare al testarii: costul generarii testelordepinde de complexitatea metodei de generare a testelor; aplicarea unui set mai mare duce la cresterea costului datorita duratei mai mare de aplicare si a necesarului sporit de memorie.

Fazele testarii prin senzitivitatea caii: sensibilizarea ultipla a caii reprez abilitatea de propagare a erorii pe mai multe cai recovergente.

Grad de acoperire: raportul dintre nr de defecte detectate si nr de defecte posibile.

Vector de test: set de valori ce se aplica unitatii sub test la un moment dat.

Sinteza testului:inserarea automata a structurii de test la nivelul logic.

Secventa de test: secv de vectori de test aplicat UUT.

Test: *tinde sa minimizezenivelul de defect; *diagnosticarea si localizarea defectelor; *imbunatatirea procesului de productie si a fazei de test.

Nivelul de defect depinde de calitatea procesului de productie si de gradul de acoperire a defectelor.

Algoritmul D: o trasatura caracteristica a acestuia o reprezinta abilitatea de propagare a erorii pe mai multe cai reconvergente. Aceasta caracteristica denumita si sensibilizarea multipla a caii este necesara pt detectarea anumitor defecte care altfel nu ar fi detectate. Algoritmul are 4 faze: initializare defect, implicatiile pe care le are, se muta frontiera D, justificare de ce valoare am nevoie pt a justifica mutarea frontierei.

Algoritmul 9-V: similar cu alg D, singura trasatura caracteristica este folosirea a inca 4 valori compozitepartial specificate.Valoarea x a alg D este complet nespecificata, nici v si vf nefiind cunoscute. Pt o val compozita partial specificata v/vf, fie v are o valoare binara si vf este necunoscuta sau invers.

Algoritmul PODEM : este un alg de generare a testelor caracterizat de un proces de cautare direct unde deciziile constau in atribuiri de valori intrarilor primare. PODEM trateaza o valoare vk ce trebuie justificata pt linia k ca un obiectiv (k,vk) ce trebuie realizat prin atribuiri ale intrarilor primare.

Algoritmul FAN: introduce doua extensii majore la conceptul de revenire din PODEM: *procesul de revenire se poate opri la linii interne; *FAN foloseste o procedura multipla de revenire care incearca sa satisfaca simultan un set de obiective.

Algoritmi pt simulare cu defect: testarea paritatii, test prin numararea de 1;test sindromului, numararea tranzitiilor, analiza de semnatura.

Metode pt. circuite secventiale.Probleme.

-  De a seta elementele de memorie intr-o setare cunoscuta inainte de operatia de sensiivizare a caii

-  Selectarea unui vector de intrare si a unei stari a.i. defectul sa fie sensitivizat

-  Selectarea acelei intrari a.i. efectul defectului sa se propage spre iesirile primare, fie direct fie prin bucla feedback.

Ipoteze:

1.    ATPG-urile secventiale se limiteaza la circ sincrone

2.    Modelul de defect considerat este blocat-la

3.    Descrierea e la nivel de poarta si bistabilele sunt incluse printre celulele primitive

Metode topologice

-  Se transforma comportamentul circuitului secvential intr-unul combinational pt a fi capabili sa folosim ATPG-urile pt circ combinationale (cu ajut modelului de retea iterativa).

Modelul circ secvential si modelul iterativ sunt identice dupa:

-  Daca se aplica o secv de intrare x1,..,xk in starea initiala y0 si se genereaza secv de iesire z0,..,zk si secventa de stari y1,..,yk-1, atunci reteaua iterativa va genera iesirile identice cu cele ale circ secvential;

-  Bistabilele sunt modelate ca si elem combinationale si starea prezenta a bistab din celula i trebuie sa fie egala cu starea iesirii bistab din celula i-1.

Procedura : 1)se extrage din circ secv partea sa comb C; 2)se genereaza k copii ale celulei C(C0,..,Ck); 3)se conecteaza cele k copii prin k-1 pseudobistabile; 4)se injecteaza defectul in k puncte ale circuitului comb; 5)folosirea unui ATPG comb; 6) se interpreteaza rezultatele.

Probleme aparute : Cat este k?

-  Daca se cunoaste starea initiala atunci k=k0=lungimea maxima a secventei de test = 4^(nr de bistabile)

-  Daca nu se cunoaste starea initiala atunci kx=k0+lungimea maxima a secv de initializare = k0+3^(nr de bist)

-  Criterii euristice : valorile initiale sunt utilizate ca un maxim

-  Dinamicitate: cadrul de timp este creat si sters in functie de nevoi

-  Un defect de tip blocat-la devine defect multiplu

-  Un defect excitat in celula Ci poate fi mascat in celula Ci+1.

Algoritmul de generare de teste pt starea initiala cunoscuta

-  Se cunoaste starea init atat pt circ bun cat si pt cel defect

-  Procesul de cautare merge inainte (a unui cadru de timp)

Tehnicile functionale – exploateaza cunostintele despre functia realizata de circuit fara referire la implementarea initiala ; se bazeaza pe modelarea circuitului pt masini cu stari finite si adoptarea unui algoritm pt compararea cu masini cu stari finite.

REZULTATE: fg=ff -> defectul este nedetectabil ; fg<>ff defectul poate fi detectat.

Circuite secventiale –generarea automata de teste bazata pe metoda structurala pt. circ. secventiale e o sarcina complexa pt. ca :1) necesitaea propagarii valorilor prin elementele de stare.2) necesitatea manipularii concurente a mai multor cadre de timp .(unelte : ASIC-Application Specific Integrated Circuit-prin inserarea unor structuri DfT-Design for testability, in circuit

Tehnici functionale – exploateaza doar cunostintele referitoare la functia realizata de circ. fara referire la implementarea reala.Ele manipuleaza modele formale constand din ecuatii booleene si grafuri de tranzitie a starilor .Daca f indice g = f indice F atunci avem defect nedetectabil ,iar daca f indice g ¹ f indice F avem defect detectabil .

Tehnica mixta structural –functionala .

A.T.P.G. – structurale :avantaje :bune pt. testarea cailor de date ;exista multe euristici ; dezavantaje :slabe pt. circuite mari .

A.T.P.G. – functionale : avantaje : bune pt.testarea controlelor;dezavantaje:dimensiunea  circuitului limitata la zeci de bistabile .

Tehnici bazate pe simulare –se bazeaza pe o generare pseudoaleatoare a vectorilor de test urmata de o ghidare logica sau /si simulare cu defect.

Avantaje :capabila sa manipuleze circuite mari ;rezultate bune dar nu optime .

Dezavantaje :nu detecteza defectele nedetectabile .

Metodele A.T.P.G. pt. circ.combinationale .

-circuitele sunt combinationale

-descrierea la nivel de poarta

-intîrzierea lunga

-defectul e de tip blocat- la singular

- doar intrarile primare sunt controlabile

-doar iesirile primare sunt observabile

Metode algebrice

Sunt bazate pe conceptul de diferenta booleana si presupun cunoasterea functiei booleene atat pt. circuitul bun cat si pt. circuitul defect . Moduri de reprezentare:-suma de produse sau produs de sume si ca BDD ( diagrama de decizie binara ).

 Metode topologice : senzitivitatea caii; PODEM; algoritmul D; FAN.

Selectia : ATPG trebuie sa estimeze diferite posibilitati pt.:

-selectarea unei linii de excitare ; selectarea unei combinatii de intrari pentru justificare ; selectarea unei cai pt. observare ;selectarea unei combinatii de intrari pt. a senzitiviza calea .

Backtracking si nedetectabilitatea

Este posibil ca intr-un anumit punct sa nu ramana nici o posibilitate pt. selectie .Doar in situatia in care toate posibilitatile au fost epuizate defectul poate fi considerat nedetectabil.

Euristici –eficienta unui ATPG inseamna capacitatea sa de a prezice la orice selectie calea corecta .In acest fel este redus nr. de backtracking ATPG-urile mai avansate utilizeaza pt. acest scop criterii euristice .In practica este limitat nr. maxim de backtrecking pt. un defect .Daca aceasta limita este depasita defectul este abortat .

Def. Gradul de acoperire al defectelor – un raport dintre defectele detectate si totalul defectelor .Gradul de acoperire a defectelor testabile- nr. de defecte detectate ,,/” nr. total ,,-“ cele nedetectabile – masoara redundanta circuitului .Eficienta defectului : (nr. de defecte detectate + defectele nedetectabile ) / totalul defectelor  - masoara calitatea ATPG.

Senzitivizarea unei cai  Excitare – selecteza PI a.î. linia l sa aiba valoarea v.Propagarea – selecteaza o cale de la sursa defectului la iesirile primare care propaga defectul si seteaza intrarile primare corespunzatoare .Verificare – este verificat faptul ca in fazele anterioare conditiile impuse sunt compatibile .

Def. Booleene . n intrari x1…xn , iesirea f(x1,xn) ;df (x1, …, xn) / dx1 = f(x1, x2,…,xi, xn) Å  f(x1,…,1, …, xn).Proprietati: 1) Daca df/dxi = 0 Þ f independenta de x  Þ = f(x1, x2,…,xi,…, xn) = f(x1, …,xi, xn) .2) daca df/dxi = 1 Þ f e dependenta de xisau senzitiva de x . 3) daca df/dxi =Fi (x1, …xi-1,xi+1, …xn) Þ f dependenta functional de i . 4) df/dxi = df/dxi 5) df/dxi =df/dxi  6) d²f/dxidxj = d²f/dxjdxi 7)df/dxi – (¶f/¶xi)*(¶f/¶xq)… 8) df/dxi = x1x2 …xi-1 xi+1…xn , x1x2 …xi-1 xi+1…xn = x , df/dxi = [(x*0)Å(x*1)] = 0Åx = x ; 9) df/dxi = x1x2 …xi-1 xi+1…xn  10) pt. sau exclusiv df/dx + 1 ;11) d(f*g)/dx= f *(dg/dx) Å g (df/dx) Å (dg/dx) *(df/dx) ; 12) d(fÅg)/dx = df/dx Å dg/dx ; 13) d(f+g)/dx = f dg /dx  Å g (df/dx) Å (dg/dx) *(df/dx)

IEEE1149.1 intructiuni obligatorii:ByPass;Sample/Preload;Extest iar ceel optionale sunt Intest si Runbist.

Disp logice pt sum modulo 2:  comparator de paritate; numarator de tranzitii si LFSR(registru).

Componetele proiectarii pt X-abilitate: mediul de ing concurenta a dus la X-ability care contine:diagnozabilitatea, fiabilitatea, posib de al promova, integrabilitatea,etc.

Principiul tehnicii boundary-scan: consta in plasarea unei celule de scanare marginala langa fiecare pin al comp.ei cu scopul de a controla si observa semn la marg comp.