Comp
ciclului de viata al produsului: cerintele
clientului,design,productie,operatie in camp,refolosire.
Calitate:
caracteriastica unui produs sau
serviciucare se refera la abilitatea de a satisface necesitati prestabilite sau
implicite.
Componentele
trilogiei:palinificarea calitatii:deszv de
produse si procese necesare pt a asigura cerintele clientilor; controlul
calitatii:asigurarea atingerilor tintelor referitoare la produs si proces;
inbunatatirea calitatii: obtinerea unui nivel de perf neatin
Fiabilitate
(calitativ)-aptitudinea unui sistem de a indeplini corect
functiunile prevazute, pe durata unei perioade de timp, in conditii de
exploatare specificate.
Fiabilitate (cantitativ) –probabilitatea ca sistemul sa-si indeplineasca
corect functiunile prevazute (la nivel de performante stabilite), pe durata
unei perioade de timp stabilite, in conditii de exploatare specificate.
Fiabilitate previzionala: acea caracteristica de fiabilitate care este
determinata prin calcul pe baza cunoasterii structurii unui sistem (echipament)
a nivelului solicitarilor in exploatarea acestuia precum si a nivelului de
fiabilitate nominala a elementelor componente.
Fiabilitate parametrica:fiabilitatea stabilita pe baza statisticii
evenimentelor corespunzatoare momentelor td.
Indicatori
de fiabilitate
1.Probabilitatea de buna
functionare
R(ti)=(N0-n)/N0=N/N0 n-defecte
2.Probabilitatea de defectare
F(t)=1-R(ti)=n/N0 ;
R(t)+F(t)=1
3.Functia de frecventa sau
intensitatea distributiei
f(t)-frecv relativa a
caderilor Δni in intervalul Δti adica
Δni=N(t)-N(t+Δt)
deci f(ti)=Δni/(Δti *N0) unde Δti
*N0 – numarul de ore de incercare
F(t)=§[0 la t]f(t)dt
R(t)=1-§[0 la t]f(t)dt=§[t la
∞]f(z)dz
4.Rata caderilor
z(t)=f(z)/R(z) ; z(zi)=
Δni / Δti *N [h-1] ; R(t)=e-§[0 la
t]z(t)dt
5.MTBF – media duratelor de
buna functionare
MTBF=m={Σ[i=0 la N0]tfi
}/N0
Daca se imparte axa timpului
in intervale de timp egale cu Δt iar in intervalul Δt=(ti-1,ti)
cad ki , i=1la c, produse atunci
m= Σ[i=1 la c]ti ki
/ Σ[i=1 la c]ki =T/N0
m=§[0 la ∞]tf(t)dt=§[0 la
∞]R(t)dt
6.Dispersia distributiei
σ2=§[0 la ∞](t-m)2f(t)dt=D
Abaterea
medie patratica
σ=√(Σ[i=1 la N0](ti-m)
)/ (N0-1) <- radical din
tata putza asta
σ=√D
OBS m=1/z ; R(t)=e1-zt
Modele
matematice
Legea de distributie normala Gauss – se
manifesta la sfarsitul perioadei de viata , zona III
f(t)=e-(t-m)^2/2*σ^2/σ*√2π
Legea de distributie exponentiala – utila pt
zona II, zona de functionare normala, utila pt prognoza; descrie scaderea
numarului supravietuitorilor din defectari aleatoare; cea mai utilizata.
f(t)=z*e-zt ,
z-const => R(t)=e-zt
MTBF=1/z ; σ2=1/z2
Legea de distributie
Weibull – cea mai generala, se aplica
cand nu se pot aplica celelalte
f(t)=(β/α)*(1-γ)β-1 * e-(t-γ)^β /α unde α-param de scara; β-param de forma;
γ-param de loc.
Mentenanta –
ansamblul tuuror actiunilor tehnico-organizatorice efectuate in scopul
mentinerii sau restabilirii unui produs in starea necesara indeplinirii
functiei cerute.
Mentenabilitate: aptitudinea unui produs ca in conditii date de utilizaresa fie
mentinut sau restabilit in starea de a-si indeplini functia specificata.
Indicatori de mentenabilitate
μ(T) – rata reparatiei
;M(tr)=1-e-∫[0 la tr] μ(t)dt
;tr-timp de restabilire
MTR=Σ[i=1 la r]ti /r
- media timpilor de reparatie (coresp MTBF)
Pt. μ(tr)-const=μ , μ=1/MTR.
Disponibilitatea – aptitudinea unui produs de a-si indeplini functia specifica, sub
aspectele combinate de mentenabilitate si fiabilitate si organizare a
actiunilor de mentenanta, la un moment dat sau intr-un interval de timp
specificat.
A(t)=R(t)-F(t)*M(t).
Coeficient de disponibilitate : kA=MTBF/(MTBF-MTR)
Coeficient de indisponibilitate : kIN=MTR/(MTBF+MTR)
Proportia disponibilitatii : kD=MTR/MTBF
Coeficientul (proportia) de utilizare : kU=MTBF/TE
Mediu de inginerie concurenta.- metoda sistematica de proiectare integrata si
concurenta a unui produs si a proceselor asociate incluzand constructia si
suportul necesar .
La dezv unui produs sunt
luate in considerare toate elem ciclului sau de viata, incepand de la
specificatii pana la distrugerea sa incluzand : calitatea, programarea
costurilor, necesitatile utilizatorilor.
Echipa de soc: persoane din diferite departamente: *reducerea timpului de
proiectare; *imbunatattirea productivitatii proiectantilor; *exploatarea
complexitatii chip-urilor.
Clasificari ale defectelor.
-dupa localizare:
*hardware(de memorie, de UCP, pe Bus, de comunicatie); *sofware (de
initializare, de asignare, de control al fluxului, de sistem, de functionare
(ale unor functii), de documentare);
-dupa gradul de
abstractizare: *la nivel electric; *la nivel de poarta (TTL); *la nivel de
registru de transfer; *la nivel de sistem; *la nivel de retea.
Modele de defect
hardware: *blocat-la (singulare
sau multiple); *scurturi (punti); *blocat-pe si blocat-la deschidere;
*intarziere la crestere si la descrestere; *propagarea unor defecte dintr-un
punct in altul; *defect de tranzitie de stare singulara; defect de cuplaj (se
manifesta la memorii); *defecte functionale.
Legarea modelelor de
defect : *in functie de unitate
subtest-tinta. Depinde de: tehnologie, de tipul unitatii subtestate, chip,
placa, memorie, microprocesor. *in functie de uneltele soft disponibile; *in
functie de echipamentele disponibile.
Av. modelului stock-at:*este o metrica; *este independent de tehnologie; *usor
de utilizat; *multe produse soft de tip CAD stiu sa-l foloseasca.
Punct de observabilitate: este un punct al unitatii de subtest unde privind
dinafara se poate vedea o diferenta intre comportamentul masinii bune si a
celei defecte.
Eroarea: un comportament diferit al masinii bune fata de cel
al masinii defecte intr-unul din punctele de observare datorita existentei
unuia sau mai multor defecte active.
Efectele erorilor:*poate cauza defectarea sistemului:-defectari
totale(sistemul trece intr-o stare nefunctionala), -defectari partiale(sistemul
este inca partial functional); *posibilitatea de a fi detectate: -de un
mecanism de detectie a erorii(in timp ce sistemul functioneaza), -de o sesiune
de test; *eroarea respectiva sa nu aiba nici un efect: -daca s-a scris peste si
eroarea a disparut, -este neimportanta din punct de vedere al sistemului,
-reprezinta un hazard functional.
ISO:
9001- pt asig calitatii in proiectare, dezvoltare, productie, instalare si
service.
*9002-pt asig calitatii in
productie, instalare, service. *9003-pt asig calit in inspectia finala,
testare.
Asigurarea calitatii: toate acele actiuni
planificate si sistematice, necesare furnizarii unei sigurante adecvate prin
care un produs sau un serviciu va satisface cerintele calit.
Sistem de calitate:struct organizatorica
responsabilitatii, proceduri, procese si resurse pentru implementarea manag de
calitate.
Politica de calitate:totalitatea intentiilor
privitoare al calitatea si directia unei intreruperi in ceea ce priveste
calitatea exprimata formal in managementul de varf.
Produs;rezultatul unei avtivitati sau proces.
Ingineria concurenta:metoda sistematica de
proiectare integrata si concurenta a unui produs si a proceselor asociate
incluzand realizarea sa.La dezv unui produs se considera toate elem ciclului
sau de viata, de la specificatii la distrugere incluzand calitatea, programarea
costurilor, necesitatile utilizatorilor.
Verificare: proc prin care se determina daca un produs
aflat intr-o anumita faza a sist respecta sau nu cerintele stabilite in timpul
fazelor anterioare.
Validare: proc de evaluare al sist la sfarzitul proc de
evaluare prin care se asigura ca sist respecta cerintele predefinite.
Testare:
-setul de operatii care poate spune daca o unitate fabricata lucreaza corect in
concordanta cu specificatiile sale sau nu.
Testabilitate: -capabilitatea unui produs de a fi testat satisfacator cu un set de
constrangeri date in termenii de calitate, cost si timp. –capabilitatea unui
proiect de a garanta ca produsul final va putea fi testat satisfacand un set de
constrangeri date in termenii de calitate, cost si timp.
Design pt testabilitate: verificarea logicii pt a
face produsul usor testabil.
Sinteza testabila:sinteza automata care
considera testabilitatea ca o constrangere a proiectarii.
Tehnici de testare: testare off-line:realiz
atunci cand sistemul e oprit si testare on-line atunci cand sistemul este
pornit(in timpul funct normale).
Avantajele testului structural:Avantaje:instrumente
disponibile pt generarea automata;o acoperire buna a defectelor;aptitudini de
diagnosticare;independent de design. Dezavantaje: se pot aplica numai daca se
stiu defectele apropierii.
Testare finala: -minimazarea nivelului defectiunilor prin
identific unit defecte si diagnoza defectarilor si localizarea.
Pasii testarii finale: minimizeaza nivelul
defectului prin identificarea unitatilor defecte; se face o diagnoza a timpului
de defect si locatia lui; asigura imbunatatirea procesului de productie si a
fazei de test.
Reducerea costului testarii: testam la nivel de
subsistem, costul testarii depinde de complexitatea metodei; sa consideri
testarea ca parte a specificarii; stabilitatea clara a defectului tinta(ceea ce
doresti sa detecetzi).
Motive la cost mare al testarii: costul generarii
testelordepinde de complexitatea metodei de generare a testelor; aplicarea unui
set mai mare duce la cresterea costului datorita duratei mai mare de aplicare
si a necesarului sporit de memorie.
Fazele testarii prin senzitivitatea caii: sensibilizarea ultipla a
caii reprez abilitatea de propagare a erorii pe mai multe cai recovergente.
Grad de acoperire: raportul dintre nr de
defecte detectate si nr de defecte posibile.
Vector de test: set de valori ce se aplica unitatii sub test la un
moment dat.
Sinteza testului:inserarea automata a
structurii de test la nivelul logic.
Secventa de test: secv de vectori de test
aplicat UUT.
Test:
*tinde sa minimizezenivelul de defect; *diagnosticarea si localizarea
defectelor; *imbunatatirea procesului de productie si a fazei de test.
Nivelul de defect depinde de
calitatea procesului de productie si de gradul de acoperire a defectelor.
Algoritmul D: o trasatura caracteristica a acestuia o reprezinta abilitatea de
propagare a erorii pe mai multe cai reconvergente. Aceasta caracteristica
denumita si sensibilizarea multipla a caii este necesara pt detectarea
anumitor defecte care altfel nu ar fi detectate. Algoritmul are 4 faze:
initializare defect, implicatiile pe care le are, se muta frontiera D,
justificare de ce valoare am nevoie pt a justifica mutarea frontierei.
Algoritmul 9-V: similar cu alg D, singura trasatura caracteristica este folosirea a
inca 4 valori compozitepartial specificate.Valoarea x a alg D este complet
nespecificata, nici v si vf nefiind cunoscute. Pt o val compozita partial
specificata v/vf, fie v are o valoare binara si vf este necunoscuta sau invers.
Algoritmul PODEM : este un alg de generare a testelor caracterizat de un proces de
cautare direct unde deciziile constau in atribuiri de valori intrarilor
primare. PODEM trateaza o valoare vk ce trebuie justificata pt linia k ca un
obiectiv (k,vk) ce trebuie realizat prin atribuiri ale intrarilor primare.
Algoritmul FAN: introduce doua extensii majore la conceptul de revenire din PODEM:
*procesul de revenire se poate opri la linii interne; *FAN foloseste o
procedura multipla de revenire care incearca sa satisfaca simultan un set de
obiective.
Algoritmi pt simulare cu defect: testarea paritatii, test
prin numararea de 1;test sindromului, numararea tranzitiilor, analiza de
semnatura.
Metode pt. circuite secventiale.Probleme.
-
De a seta
elementele de memorie intr-o setare cunoscuta inainte de operatia de
sensiivizare a caii
-
Selectarea unui
vector de intrare si a unei stari a.i. defectul sa fie sensitivizat
-
Selectarea acelei
intrari a.i. efectul defectului sa se propage spre iesirile primare, fie direct
fie prin bucla feedback.
Ipoteze:
1. ATPG-urile secventiale se limiteaza la circ sincrone
2. Modelul de defect considerat este blocat-la
3. Descrierea e la nivel de poarta si bistabilele sunt
incluse printre celulele primitive
Metode topologice
-
Se transforma
comportamentul circuitului secvential intr-unul combinational pt a fi capabili
sa folosim ATPG-urile pt circ combinationale (cu ajut modelului de retea iterativa).
Modelul circ secvential si modelul iterativ sunt
identice dupa:
-
Daca se aplica o
secv de intrare x1,..,xk in starea initiala y0 si se genereaza secv de iesire
z0,..,zk si secventa de stari y1,..,yk-1, atunci reteaua iterativa va genera
iesirile identice cu cele ale circ secvential;
-
Bistabilele sunt
modelate ca si elem combinationale si starea prezenta a bistab din celula i
trebuie sa fie egala cu starea iesirii bistab din celula i-1.
Procedura : 1)se extrage din circ secv partea sa comb C; 2)se
genereaza k copii ale celulei C(C0,..,Ck); 3)se conecteaza cele k copii prin
k-1 pseudobistabile; 4)se injecteaza defectul in k puncte ale circuitului comb;
5)folosirea unui ATPG comb; 6) se interpreteaza rezultatele.
Probleme
aparute : Cat este k?
- Daca se cunoaste starea initiala atunci k=k0=lungimea
maxima a secventei de test = 4^(nr de bistabile)
- Daca nu se cunoaste starea initiala atunci
kx=k0+lungimea maxima a secv de initializare = k0+3^(nr de bist)
- Criterii euristice : valorile initiale sunt utilizate
ca un maxim
- Dinamicitate: cadrul de timp este creat si sters in
functie de nevoi
- Un defect de tip blocat-la devine defect multiplu
- Un defect excitat in celula Ci poate fi mascat in
celula Ci+1.
Algoritmul de
generare de teste pt starea initiala cunoscuta
- Se cunoaste starea init atat pt circ bun cat si pt cel
defect
- Procesul de cautare merge inainte (a unui cadru de
timp)
Tehnicile
functionale – exploateaza cunostintele despre functia realizata
de circuit fara referire la implementarea initiala ; se bazeaza pe modelarea
circuitului pt masini cu stari finite si adoptarea unui algoritm pt compararea
cu masini cu stari finite.
REZULTATE: fg=ff -> defectul este
nedetectabil ; fg<>ff defectul poate fi detectat.
Def .Doua
masini M=(I,O,δ,λ,S0) si M’= (I’,O’,δ’,λ’,S0’) sunt
echivalente ó pt toate intrarile si pt toate cuplurile de stari
care pot fi obtinute iesirile sunt egale.
Teorema.
Doua masini cu stari finite sunt echivalente ó iesirile masinii
produs Mp sunt egale cu 0 pt toate scventele de intrari.Fiind date 0 masini M
si M’(unde M cu defect si M’ fara) un defect este detectabil ó M si M’ nu sunt
echivalente.
Consecinte.1)Conditia
Op=0 (iesirile masinii produs) trebuie sa fie verificata pt toate starile ce
pot fi atinse de masina produs si pt toate intrarile primare posibile.
2)verificarea echivalentei intre cele 2 masini este astfel redusa la: a)
gasirea tuturor starilor pe care le poate avea Mp (traversare); b)pt fiecare
dintre stari , pt orice combinatie de intrari Op=0.
Clasificare.Dupa directia de cautare: traversare: -inapoi;-inainte;-mixta.Dupa
ordinul cautarii.
Metode de determinare a echivalentei.
1.
identitatea
combinationala – verifica echivalenta a 2 masini (starile masinilor)
2.
identitatea
starilor care se pot obtine – calculeaza starile pt fiecare dintre cele 2
masini
3.
traversarea
masinii produs
4.
generarea unui
vector de test
Metode bazate pe algoritmi genetici.(AG)
-mimeaza evolutia proceselor
din natura
-potriviti pt probleme de
cautare.
Operatori de reproducere
:-cross-over; - mutatie.
Indivizii selectati: selectia
este prop cu calitatea lor.
APTG bazati pe AG – Criss; -Dac’94; -Gatto
Av/Dezav: +manipularea unor
circuite mari; +competitive cu APTG bazate pe metode topologice; +foarte
flexibila; -mai putini eficiente.
Defectiunea:incetarea aptitudinii unui sistem de a-si
ideplini functia specificata.
Defectiune fizica: def ce poate aparea in str
fizica a unui sistem si in general nu este numarabila ca tip, localizare si
moment de aparitie.
Defect: un model al unei defectiuni fizice care face aceasta
defectiune numarabila si atfel tratabila.
Defect de activare: un defect e activat cand
apare o comportare diferita intr-un anumit punct intre masina buna si cea
defecta.
Punct de obervabilitate: punct din unit sub test unde
privind din afara se poate vedea o diferenta iontre comportamentul masinii bune
si cea defecta.
Eroarea: un comportament diferit al masinii bune fata de
masina defecta in cel putin un punct de observabilitate datorita existentei
uneia sau mai multor defecte activate.
Latenta defectului: intervalul de timp scurs
intre aparitia defectiunii si aparitia erorii corespunzatoare ei.
Defect detectat: daca reaspunsul produs este
diferit de raspunsul asteptat in circ faa defect.
Ex de defecte: specificatii incomplete, componente proaste,
trasee incorecte, de fabricatie, fizice, etc.
Simularea defectelor – consta in simularea circuitului in prezenta
defectului. Comparand rezultatele (circ cu defect si cele fara defect) se pot
determina defectele determinate de testul T. Scopuri: *analiza testabilitatii;
*calculul gradului de acoperire a defectului; *constructia dictionarului de
defect pt diagnoza post-test; *analiza operatiilor circuitului in prezenta
defectelor (important in sist de inalta fiabilitate).
Complexitate – simularea cu defect necesita pt orice vector de
intrare simularea a f+1 circuite. Pt un circ cu n porti simularea unui vector
de intrare este proportionala cu n. Operatia de simulare a unui defect este
proportionala cu n2.
Simulare cu defect paralela : *fiecarui nod al circuitului i se asociaza un
cuvant; *fiecarui bit al cuvantului ise asociaza un defect: primul bit
reprezinta circuitul fara defect. Pentru fiecare nod, noua valoare poate fi
calculata intr-un singur ciclu masina utilizand operatii logice. Daca m este
dimensiunea cuvantului , atunci pot fi simulate m defecte. Sunt necesare f(m)
simulari.
Simularea cu defect seriala(propagarea defectelor singulare) : pt fiecare defect
se face o simulare a circ fara defect pt fiecare circ cu defecte.
Simulare cu defecte deductive : este bazata pe faptul ca activitatea defectului
(procentul de elem unde val din circ cu defect difera de circ fara defect) este
foarte mica 1-5% . In simularea deductiva sunt pastrati doar bitii de pozitie
utilizati ca nume al defectului care sunt diferiti de valoarea buna.
Av/dezav: +pt orice circ defect sunt simulate doar acele
moduri unde se pp ca valorile sunt diferite de cele din circ bun. – manipularea
listelor costisitoare; - limitat in practica.
Simulare cu defect concurenta : pt un defect explicit intr-un nod este pastrata o
lista de stare a nodului care cuprinde: - valorile intrarilor, iesirilor si
starile interne.
Av/dezav: +eficienta; +acuratete in tratarea valorilor;+ se
pot folosi simulatoare pt mai multe nivele; - consum mare de memorie.
Clasif def dpdv al locatiei si abstractizarii: locatiei=hardwaew si software siabstract=nivel
electric,al portii, al registrului, al sistemului si al retelei.
Tehnici de generare automata a
vectorilor de test .A.T.P.G.
1) Arhitectura unui sistem A.T.P.G.
2)
Planul de test .
3)
Clasificarea sistemelor A.T.P.G.
1)
Este compus din : descrierea circuitului ;managerul de defecte , lista de
defecte redusa generatorul de vectori de test ( produce vectori de test –
apreciaza acoperirea defectelor ).
2)
cuprinde un nr de pasi :
pas1 – identificarea setului defectelor finite -->
lista de defecte completa
-unelte utilizate :
generator de lista de defecte – una dintre componentele managerului de defecte
;
pas2 - identificarea setului minim de defecte finite
distincte ; unealta : minimizor de defecte .
pas3 – analiza testabilitatii: obiectivele acestui pas
sunt :
-se
estimeaza efortul necesar pt. testarea UUT la lungimea cuvantului de vector de
test , gradul de acoperire al defectelor, timpul consumat de unitatea centrala
;
-identificarea
zonelor dificil de testat
unelte
:analizorul de testabilitate
pas4 – se genereaza un set initial de vectori de
test->minimal aleator
pas5 – actualizarea listei defectelor detectate
Simulatorul cu defect – pt. toate testele se
face o simulare logica ,dupa care se forteaza o linie la zero , se aplica
testul si priveste in punctul de obs. daca nu cumva se sesizeaza o diferenta
fata de master .
pas6 - genereaza un set de vectori de test pt. a acoperi
defectele neacoperite .
-se face de catre un A.T.P.G.: 1)selectia
defectelor finite ,2)generarea vectorului , 3)actualizarea listei defectelor si
a gradului de acoperire
pas7 – minimizarea setului de vectori de test prin
compactare
Clasificarea A.T.P.G.Generatoarele de
teste sunt algoritmi unelte care se pot clasifica dupa
-natura
circ.tinta –combinationale si secventiale
-
strategia de generare de teste :structurala ,functionala , mixta ,bazata pe
simulare ;
-dupa
arhitectura gazda :monoprocesor ,paralele si sisteme distribuite
Clasif ATPG dupa arhitectura gazda: monoprocesor, paralele si distribuite.
Tehnicile structurale : au la baza cunoasterea topologiei
circuitului.Genereaza vectori de test prin excitarea si propagarea valorilor
logice in circuit. Pt. circ. combinationale aceasta tehnica A.T.P.G.e foarte
des folosita .
Circuite secventiale –generarea automata de teste bazata pe metoda
structurala pt. circ. secventiale e o sarcina complexa pt. ca :1) necesitaea
propagarii valorilor prin elementele de stare.2) necesitatea manipularii
concurente a mai multor cadre de timp .(unelte : ASIC-Application Specific
Integrated Circuit-prin inserarea unor structuri DfT-Design for testability, in
circuit
Tehnici functionale – exploateaza doar cunostintele referitoare la
functia realizata de circ. fara referire la implementarea reala.Ele manipuleaza
modele formale constand din ecuatii booleene si grafuri de tranzitie a starilor
.Daca f indice g = f indice F atunci avem defect nedetectabil ,iar daca f
indice g ¹ f indice F avem defect
detectabil .
Tehnica mixta structural –functionala
.
A.T.P.G.
– structurale :avantaje :bune pt. testarea cailor de date ;exista multe
euristici ; dezavantaje :slabe pt. circuite mari .
A.T.P.G.
– functionale : avantaje : bune pt.testarea
controlelor;dezavantaje:dimensiunea
circuitului limitata la zeci de bistabile .
Tehnici bazate pe simulare –se bazeaza pe o generare pseudoaleatoare a vectorilor
de test urmata de o ghidare logica sau /si simulare cu defect.
Avantaje
:capabila sa manipuleze circuite mari ;rezultate bune dar nu optime .
Dezavantaje
:nu detecteza defectele nedetectabile .
Metodele A.T.P.G. pt.
circ.combinationale .
-circuitele
sunt combinationale
-descrierea
la nivel de poarta
-intîrzierea
lunga
-defectul
e de tip blocat- la singular
-
doar intrarile primare sunt controlabile
-doar
iesirile primare sunt observabile
Metode algebrice
Sunt
bazate pe conceptul de diferenta booleana si presupun cunoasterea functiei
booleene atat pt. circuitul bun cat si pt. circuitul defect . Moduri de
reprezentare:-suma de produse sau produs de sume si ca BDD ( diagrama de
decizie binara ).
Metode
topologice : senzitivitatea caii;
PODEM; algoritmul D; FAN.
Selectia
: ATPG trebuie sa estimeze diferite posibilitati pt.:
-selectarea unei linii de
excitare ; selectarea unei combinatii de intrari pentru justificare ;
selectarea unei cai pt. observare ;selectarea unei combinatii de intrari pt. a
senzitiviza calea .
Backtracking si nedetectabilitatea
Este
posibil ca intr-un anumit punct sa nu ramana nici o posibilitate pt. selectie
.Doar in situatia in care toate posibilitatile au fost epuizate defectul poate
fi considerat nedetectabil.
Euristici –eficienta unui ATPG inseamna capacitatea sa de a
prezice la orice selectie calea corecta .In acest fel este redus nr. de
backtracking ATPG-urile mai avansate utilizeaza pt. acest scop criterii
euristice .In practica este limitat nr. maxim de backtrecking pt. un defect
.Daca aceasta limita este depasita defectul este abortat .
Def. Gradul de acoperire al defectelor – un raport dintre defectele detectate
si totalul defectelor .Gradul de acoperire a defectelor testabile- nr. de
defecte detectate ,,/” nr. total ,,-“ cele nedetectabile – masoara redundanta
circuitului .Eficienta defectului : (nr. de defecte detectate + defectele
nedetectabile ) / totalul defectelor -
masoara calitatea ATPG.
Senzitivizarea
unei cai Excitare – selecteza PI a.î. linia l sa aiba
valoarea v.Propagarea – selecteaza o cale de la sursa defectului la iesirile
primare care propaga defectul si seteaza intrarile primare corespunzatoare
.Verificare – este verificat faptul ca in fazele anterioare conditiile impuse
sunt compatibile .
Def.
Booleene . n intrari x1…xn ,
iesirea f(x1,xn) ;df (x1, …, xn) / dx1 = f(x1, x2,…,xi, xn) Å f(x1,…,1, …,
xn).Proprietati: 1) Daca df/dxi = 0 Þ f independenta de x
Þ = f(x1, x2,…,xi,…, xn) =
f(x1, …,xi, xn) .2) daca df/dxi = 1 Þ f e dependenta de xisau senzitiva de x . 3) daca
df/dxi =Fi (x1, …xi-1,xi+1, …xn) Þ f dependenta functional de i . 4) df/dxi = df/dxi 5)
df/dxi =df/dxi 6) d2f/dxidxj
= d2f/dxjdxi 7)df/dxi – (¶f/¶xi)*(¶f/¶xq)… 8) df/dxi = x1x2
…xi-1 xi+1…xn , x1x2 …xi-1 xi+1…xn = x , df/dxi = [(x*0)Å(x*1)] = 0Åx = x ; 9) df/dxi = x1x2 …xi-1 xi+1…xn 10) pt. sau exclusiv df/dx + 1 ;11)
d(f*g)/dx= f *(dg/dx) Å g (df/dx) Å (dg/dx) *(df/dx) ; 12) d(fÅg)/dx = df/dx Å dg/dx ; 13) d(f+g)/dx = f dg /dx Å g (df/dx) Å (dg/dx) *(df/dx)
IEEE1149.1 intructiuni obligatorii:ByPass;Sample/Preload;Extest iar ceel optionale sunt
Intest si Runbist.
Disp logice pt sum modulo 2: comparator de paritate;
numarator de tranzitii si LFSR(registru).
Componetele proiectarii pt X-abilitate: mediul de ing concurenta a dus la X-ability care
contine:diagnozabilitatea, fiabilitatea, posib de al promova,
integrabilitatea,etc.
Principiul tehnicii
boundary-scan: consta in plasarea
unei celule de scanare marginala langa fiecare pin al comp.ei cu scopul de a
controla si observa semn la marg comp.
Niciun comentariu:
Trimiteți un comentariu