Comp ciclului de viata al
produsului: cerintele
clientului,design,productie,operatie in camp,refolosire.
Calitate: caracteriastica
unui produs sau serviciucare se refera la abilitatea de a satisface necesitati
prestabilite sau implicite.
Componentele trilogiei:palinificarea
calitatii:deszv de produse si procese necesare pt a asigura cerintele
clientilor; controlul calitatii:asigurarea atingerilor tintelor referitoare la
produs si proces; inbunatatirea calitatii: obtinerea unui nivel de perf neatin
Fiabilitate
(calitativ)-aptitudinea
unui sistem de a indeplini corect functiunile prevazute, pe durata unei
perioade de timp, in conditii de exploatare specificate.
Fiabilitate
(cantitativ) –probabilitatea ca sistemul sa-si indeplineasca corect
functiunile prevazute (la nivel de performante stabilite), pe durata unei
perioade de timp stabilite, in conditii de exploatare specificate.
Fiabilitate
previzionala: acea caracteristica de fiabilitate care este determinata
prin calcul pe baza cunoasterii structurii unui sistem (echipament) a nivelului
solicitarilor in exploatarea acestuia precum si a nivelului de fiabilitate
nominala a elementelor componente.
Fiabilitate
parametrica:fiabilitatea stabilita pe baza statisticii evenimentelor
corespunzatoare momentelor td.
Indicatori de fiabilitate
1.Probabilitatea
de buna functionare
R(ti)=(N0-n)/N0=N/N0 n-defecte
2.Probabilitatea
de defectare
F(t)=1-R(ti)=n/N0 ;
R(t)+F(t)=1
3.Functia
de frecventa sau intensitatea distributiei
f(t)-frecv
relativa a caderilor Δni in intervalul Δti adica
Δni=N(t)-N(t+Δt)
deci f(ti)=Δni/(Δti *N0) unde Δti
*N0 – numarul de ore de incercare
F(t)=§[0
la t]f(t)dt
R(t)=1-§[0
la t]f(t)dt=§[t la ∞]f(z)dz
4.Rata
caderilor
z(t)=f(z)/R(z)
; z(zi)= Δni / Δti *N [h-1] ;
R(t)=e-§[0 la t]z(t)dt
5.MTBF
– media duratelor de buna functionare
MTBF=m={Σ[i=0
la N0]tfi }/N0
Daca
se imparte axa timpului in intervale de timp egale cu Δt iar in intervalul
Δt=(ti-1,ti) cad ki , i=1la c, produse atunci
m=
Σ[i=1 la c]ti ki / Σ[i=1 la c]ki =T/N0
m=§[0
la ∞]tf(t)dt=§[0 la ∞]R(t)dt
6.Dispersia
distributiei
σ2=§[0
la ∞](t-m)2f(t)dt=D
Abaterea medie patratica
σ=√(Σ[i=1
la N0](ti-m) )/ (N0-1) <- radical din tata putza asta
σ=√D
OBS
m=1/z ; R(t)=e1-zt
Modele matematice
Legea de distributie normala Gauss – se
manifesta la sfarsitul perioadei de viata , zona III
f(t)=e-(t-m)^2/2*σ^2/σ*√2π
Legea de distributie exponentiala – utila pt
zona II, zona de functionare normala, utila pt prognoza; descrie scaderea
numarului supravietuitorilor din defectari aleatoare; cea mai utilizata.
f(t)=z*e-zt
, z-const => R(t)=e-zt
MTBF=1/z
; σ2=1/z2
Legea
de distributie Weibull – cea mai generala, se aplica cand nu se pot aplica celelalte
f(t)=(β/α)*(1-γ)β-1 * e-(t-γ)^β /α unde α-param de scara; β-param de forma;
γ-param de loc.
Mentenanta – ansamblul
tuuror actiunilor tehnico-organizatorice efectuate in scopul mentinerii sau
restabilirii unui produs in starea necesara indeplinirii functiei cerute.
Mentenabilitate: aptitudinea unui produs ca
in conditii date de utilizaresa fie mentinut sau restabilit in starea de a-si
indeplini functia specificata.
Indicatori de mentenabilitate
μ(T)
– rata reparatiei ;M(tr)=1-e-∫[0 la tr] μ(t)dt ;tr-timp de restabilire
MTR=Σ[i=1
la r]ti /r - media timpilor de reparatie (coresp MTBF)
Pt.
μ(tr)-const=μ , μ=1/MTR.
Disponibilitatea – aptitudinea unui produs
de a-si indeplini functia specifica, sub aspectele combinate de mentenabilitate
si fiabilitate si organizare a actiunilor de mentenanta, la un moment dat sau
intr-un interval de timp specificat.
A(t)=R(t)-F(t)*M(t).
Coeficient
de disponibilitate : kA=MTBF/(MTBF-MTR)
Coeficient
de indisponibilitate : kIN=MTR/(MTBF+MTR)
Proportia
disponibilitatii : kD=MTR/MTBF
Coeficientul
(proportia) de utilizare : kU=MTBF/TE
Mediu de inginerie
concurenta.-
metoda sistematica de proiectare integrata si concurenta a unui produs si a
proceselor asociate incluzand constructia si suportul necesar .
La
dezv unui produs sunt luate in considerare toate elem ciclului sau de viata,
incepand de la specificatii pana la distrugerea sa incluzand : calitatea,
programarea costurilor, necesitatile utilizatorilor.
Echipa de soc: persoane din diferite
departamente: *reducerea timpului de proiectare; *imbunatattirea
productivitatii proiectantilor; *exploatarea complexitatii chip-urilor.
Clasificari ale defectelor.
-dupa
localizare: *hardware(de memorie, de UCP, pe Bus, de comunicatie); *sofware (de
initializare, de asignare, de control al fluxului, de sistem, de functionare
(ale unor functii), de documentare);
-dupa gradul de abstractizare: *la nivel electric; *la
nivel de poarta (TTL); *la nivel de registru de transfer; *la nivel de sistem;
*la nivel de retea.
Modele
de defect hardware: *blocat-la (singulare sau multiple); *scurturi (punti); *blocat-pe si
blocat-la deschidere; *intarziere la crestere si la descrestere; *propagarea
unor defecte dintr-un punct in altul; *defect de tranzitie de stare singulara;
defect de cuplaj (se manifesta la memorii); *defecte functionale.
Legarea
modelelor de defect : *in functie de unitate subtest-tinta. Depinde de: tehnologie, de
tipul unitatii subtestate, chip, placa, memorie, microprocesor. *in functie de
uneltele soft disponibile; *in functie de echipamentele disponibile.
Av.
modelului stock-at:*este o metrica; *este independent de tehnologie; *usor de utilizat;
*multe produse soft de tip CAD stiu sa-l foloseasca.
Punct
de observabilitate: este un punct al unitatii de subtest unde privind dinafara se poate
vedea o diferenta intre comportamentul masinii bune si a celei defecte.
Eroarea: un comportament diferit al
masinii bune fata de cel al masinii defecte intr-unul din punctele de observare
datorita existentei unuia sau mai multor defecte active.
Efectele
erorilor:*poate
cauza defectarea sistemului:-defectari totale(sistemul trece intr-o stare
nefunctionala), -defectari partiale(sistemul este inca partial functional);
*posibilitatea de a fi detectate: -de un mecanism de detectie a erorii(in timp
ce sistemul functioneaza), -de o sesiune de test; *eroarea respectiva sa nu
aiba nici un efect: -daca s-a scris peste si eroarea a disparut, -este
neimportanta din punct de vedere al sistemului, -reprezinta un hazard
functional.
ISO: 9001- pt asig calitatii in
proiectare, dezvoltare, productie, instalare si service.
*9002-pt
asig calitatii in productie, instalare, service. *9003-pt asig calit in
inspectia finala, testare.
Asigurarea calitatii: toate
acele actiuni planificate si sistematice, necesare furnizarii unei sigurante
adecvate prin care un produs sau un serviciu va satisface cerintele calit.
Sistem de calitate:struct
organizatorica responsabilitatii, proceduri, procese si resurse pentru
implementarea manag de calitate.
Politica de calitate:totalitatea
intentiilor privitoare al calitatea si directia unei intreruperi in ceea ce
priveste calitatea exprimata formal in managementul de varf.
Produs;rezultatul unei avtivitati sau proces.
Ingineria
concurenta:metoda sistematica de
proiectare integrata si concurenta a unui produs si a proceselor asociate
incluzand realizarea sa.La dezv unui produs se considera toate elem ciclului
sau de viata, de la specificatii la distrugere incluzand calitatea, programarea
costurilor, necesitatile utilizatorilor.
Verificare:
proc prin care se determina daca
un produs aflat intr-o anumita faza a sist respecta sau nu cerintele stabilite
in timpul fazelor anterioare.
Validare: proc de evaluare al sist la sfarzitul proc de evaluare prin care se
asigura ca sist respecta cerintele predefinite.
Testare: -setul
de operatii care poate spune daca o unitate fabricata lucreaza corect in
concordanta cu specificatiile sale sau nu.
Testabilitate:
-capabilitatea unui produs de a fi testat satisfacator cu un set de
constrangeri date in termenii de calitate, cost si timp. –capabilitatea unui
proiect de a garanta ca produsul final va putea fi testat satisfacand un set de
constrangeri date in termenii de calitate, cost si timp.
Design pt
testabilitate: verificarea logicii pt a
face produsul usor testabil.
Sinteza
testabila:sinteza automata care considera
testabilitatea ca o constrangere a proiectarii.
Tehnici de
testare: testare off-line:realiz atunci
cand sistemul e oprit si testare on-line atunci cand sistemul este pornit(in
timpul funct normale).
Avantajele
testului structural:Avantaje:instrumente
disponibile pt generarea automata;o acoperire buna a defectelor;aptitudini de
diagnosticare;independent de design. Dezavantaje: se pot aplica numai daca se
stiu defectele apropierii.
Testare
finala: -minimazarea nivelului
defectiunilor prin identific unit defecte si diagnoza defectarilor si
localizarea.
Pasii testarii
finale: minimizeaza nivelul defectului
prin identificarea unitatilor defecte; se face o diagnoza a timpului de defect
si locatia lui; asigura imbunatatirea procesului de productie si a fazei de
test.
Reducerea
costului testarii: testam la nivel de subsistem,
costul testarii depinde de complexitatea metodei; sa consideri testarea ca
parte a specificarii; stabilitatea clara a defectului tinta(ceea ce doresti sa
detecetzi).
Motive la
cost mare al testarii: costul generarii
testelordepinde de complexitatea metodei de generare a testelor; aplicarea unui
set mai mare duce la cresterea costului datorita duratei mai mare de aplicare
si a necesarului sporit de memorie.
Fazele
testarii prin senzitivitatea caii: sensibilizarea
ultipla a caii reprez abilitatea de propagare a erorii pe mai multe cai
recovergente.
Grad de
acoperire: raportul dintre nr de defecte
detectate si nr de defecte posibile.
Vector de test: set de valori ce se aplica
unitatii sub test la un moment dat.
Sinteza
testului:inserarea automata a structurii de
test la nivelul logic.
Secventa
de test: secv de vectori de test aplicat
UUT.
Test: *tinde
sa minimizezenivelul de defect; *diagnosticarea si localizarea defectelor;
*imbunatatirea procesului de productie si a fazei de test.
Nivelul de defect depinde de
calitatea procesului de productie si de gradul de acoperire a defectelor.
Algoritmul D: o trasatura caracteristica
a acestuia o reprezinta abilitatea de propagare a erorii pe mai multe cai
reconvergente. Aceasta caracteristica denumita si sensibilizarea multipla a
caii este necesara pt detectarea anumitor defecte care altfel nu ar fi
detectate. Algoritmul are 4 faze: initializare defect, implicatiile pe care le
are, se muta frontiera D, justificare de ce valoare am nevoie pt a justifica
mutarea frontierei.
Algoritmul 9-V: similar cu alg D, singura
trasatura caracteristica este folosirea a inca 4 valori compozitepartial
specificate.Valoarea x a alg D este complet nespecificata, nici v si vf nefiind
cunoscute. Pt o val compozita partial specificata v/vf, fie v are o valoare
binara si vf este necunoscuta sau invers.
Algoritmul PODEM : este un alg de generare a
testelor caracterizat de un proces de cautare direct unde deciziile constau in
atribuiri de valori intrarilor primare. PODEM trateaza o valoare vk ce trebuie
justificata pt linia k ca un obiectiv (k,vk) ce trebuie realizat prin atribuiri
ale intrarilor primare.
Algoritmul FAN: introduce doua extensii
majore la conceptul de revenire din PODEM: *procesul de revenire se poate opri
la linii interne; *FAN foloseste o procedura multipla de revenire care incearca
sa satisfaca simultan un set de obiective.
Algoritmi pt simulare cu
defect: testarea paritatii, test prin numararea de 1;test
sindromului, numararea tranzitiilor, analiza de semnatura.
Metode pt. circuite
secventiale.Probleme.
- De a seta elementele de
memorie intr-o setare cunoscuta inainte de operatia de sensiivizare a caii
- Selectarea unui vector de
intrare si a unei stari a.i. defectul sa fie sensitivizat
- Selectarea acelei intrari
a.i. efectul defectului sa se propage spre iesirile primare, fie direct fie
prin bucla feedback.
Ipoteze:
1. ATPG-urile secventiale se
limiteaza la circ sincrone
2. Modelul de defect considerat
este blocat-la
3. Descrierea e la nivel de
poarta si bistabilele sunt incluse printre celulele primitive
Metode topologice
- Se transforma comportamentul
circuitului secvential intr-unul combinational pt a fi capabili sa folosim
ATPG-urile pt circ combinationale (cu ajut modelului de retea iterativa).
Modelul circ secvential si
modelul iterativ sunt identice dupa:
- Daca se aplica o secv de
intrare x1,..,xk in starea initiala y0 si se genereaza secv de iesire z0,..,zk
si secventa de stari y1,..,yk-1, atunci reteaua iterativa va genera iesirile
identice cu cele ale circ secvential;
- Bistabilele sunt modelate ca
si elem combinationale si starea prezenta a bistab din celula i trebuie sa fie
egala cu starea iesirii bistab din celula i-1.
Procedura : 1)se extrage din circ secv partea sa comb C; 2)se
genereaza k copii ale celulei C(C0,..,Ck); 3)se conecteaza cele k copii prin
k-1 pseudobistabile; 4)se injecteaza defectul in k puncte ale circuitului comb;
5)folosirea unui ATPG comb; 6) se interpreteaza rezultatele.
Probleme aparute : Cat este k?
- Daca se cunoaste starea
initiala atunci k=k0=lungimea maxima a secventei de test = 4^(nr de bistabile)
- Daca nu se cunoaste starea
initiala atunci kx=k0+lungimea maxima a secv de initializare = k0+3^(nr de
bist)
- Criterii euristice :
valorile initiale sunt utilizate ca un maxim
- Dinamicitate: cadrul de timp
este creat si sters in functie de nevoi
- Un defect de tip blocat-la
devine defect multiplu
- Un defect excitat in celula
Ci poate fi mascat in celula Ci+1.
Algoritmul de
generare de teste pt starea initiala cunoscuta
- Se cunoaste starea init atat
pt circ bun cat si pt cel defect
- Procesul de cautare merge
inainte (a unui cadru de timp)
Tehnicile functionale –
exploateaza cunostintele despre functia realizata de circuit fara referire la
implementarea initiala ; se bazeaza pe modelarea circuitului pt masini cu stari
finite si adoptarea unui algoritm pt compararea cu masini cu stari finite.
REZULTATE: fg=ff -> defectul este
nedetectabil ; fg<>ff defectul poate fi detectat.
Def .Doua masini M=(I,O,δ,λ,S0)
si M’= (I’,O’,δ’,λ’,S0’) sunt echivalente ó pt toate intrarile si pt toate
cuplurile de stari care pot fi obtinute iesirile sunt egale.
Teorema. Doua masini cu stari finite
sunt echivalente ó iesirile masinii produs Mp
sunt egale cu 0 pt toate scventele de intrari.Fiind date 0 masini M si M’(unde
M cu defect si M’ fara) un defect este detectabil ó M si M’ nu sunt
echivalente.
Consecinte.1)Conditia Op=0 (iesirile
masinii produs) trebuie sa fie verificata pt toate starile ce pot fi atinse de
masina produs si pt toate intrarile primare posibile. 2)verificarea
echivalentei intre cele 2 masini este astfel redusa la: a) gasirea tuturor
starilor pe care le poate avea Mp (traversare); b)pt fiecare dintre stari , pt
orice combinatie de intrari Op=0.
Clasificare.Dupa directia de cautare:
traversare: -inapoi;-inainte;-mixta.Dupa ordinul cautarii.
Metode de determinare a
echivalentei.
1. identitatea combinationala –
verifica echivalenta a 2 masini (starile masinilor)
2. identitatea starilor care se
pot obtine – calculeaza starile pt fiecare dintre cele 2 masini
3. traversarea masinii produs
4. generarea unui vector de
test
Metode bazate pe algoritmi
genetici.(AG)
-mimeaza
evolutia proceselor din natura
-potriviti
pt probleme de cautare.
Operatori
de reproducere :-cross-over; - mutatie.
Indivizii
selectati: selectia este prop cu calitatea lor.
APTG bazati pe AG – Criss;
-Dac’94; -Gatto
Av/Dezav: +manipularea unor circuite mari; +competitive cu
APTG bazate pe metode topologice; +foarte flexibila; -mai putini eficiente.
Defectiunea:incetarea
aptitudinii unui sistem de a-si ideplini functia specificata.
Defectiune fizica: def
ce poate aparea in str fizica a unui sistem si in general nu este numarabila ca
tip, localizare si moment de aparitie.
Defect: un
model al unei defectiuni fizice care face aceasta defectiune numarabila si
atfel tratabila.
Defect de activare: un
defect e activat cand apare o comportare diferita intr-un anumit punct intre
masina buna si cea defecta.
Punct de obervabilitate: punct
din unit sub test unde privind din afara se poate vedea o diferenta iontre
comportamentul masinii bune si cea defecta.
Eroarea: un
comportament diferit al masinii bune fata de masina defecta in cel putin un
punct de observabilitate datorita existentei uneia sau mai multor defecte
activate.
Latenta defectului: intervalul
de timp scurs intre aparitia defectiunii si aparitia erorii corespunzatoare ei.
Defect detectat: daca
reaspunsul produs este diferit de raspunsul asteptat in circ faa defect.
Ex de defecte: specificatii
incomplete, componente proaste, trasee incorecte, de fabricatie, fizice, etc.
Simularea defectelor – consta in simularea
circuitului in prezenta defectului. Comparand rezultatele (circ cu defect si
cele fara defect) se pot determina defectele determinate de testul T. Scopuri:
*analiza testabilitatii; *calculul gradului de acoperire a defectului; *constructia
dictionarului de defect pt diagnoza post-test; *analiza operatiilor circuitului
in prezenta defectelor (important in sist de inalta fiabilitate).
Complexitate – simularea cu defect
necesita pt orice vector de intrare simularea a f+1 circuite. Pt un circ cu n
porti simularea unui vector de intrare este proportionala cu n. Operatia de
simulare a unui defect este proportionala cu n2.
Simulare cu defect paralela : *fiecarui nod al
circuitului i se asociaza un cuvant; *fiecarui bit al cuvantului ise asociaza
un defect: primul bit reprezinta circuitul fara defect. Pentru fiecare nod,
noua valoare poate fi calculata intr-un singur ciclu masina utilizand operatii
logice. Daca m este dimensiunea cuvantului , atunci pot fi simulate m defecte.
Sunt necesare f(m) simulari.
Simularea cu defect seriala(propagarea defectelor
singulare) : pt fiecare defect se face o simulare a circ fara defect pt fiecare
circ cu defecte.
Simulare cu defecte
deductive
: este bazata pe faptul ca activitatea defectului (procentul de elem unde val
din circ cu defect difera de circ fara defect) este foarte mica 1-5% . In
simularea deductiva sunt pastrati doar bitii de pozitie utilizati ca nume al
defectului care sunt diferiti de valoarea buna.
Av/dezav: +pt orice circ defect sunt
simulate doar acele moduri unde se pp ca valorile sunt diferite de cele din
circ bun. – manipularea listelor costisitoare; - limitat in practica.
Simulare cu defect
concurenta
: pt un defect explicit intr-un nod este pastrata o lista de stare a nodului
care cuprinde: - valorile intrarilor, iesirilor si starile interne.
Av/dezav: +eficienta; +acuratete in tratarea valorilor;+ se
pot folosi simulatoare pt mai multe nivele; - consum mare de memorie.
Clasif def dpdv al locatiei si
abstractizarii: locatiei=hardwaew si software siabstract=nivel electric,al portii, al
registrului, al sistemului si al retelei.
Tehnici de
generare automata a vectorilor de test .A.T.P.G.
1)
Arhitectura unui sistem A.T.P.G.
2) Planul de test .
3) Clasificarea sistemelor A.T.P.G.
1) Este compus din : descrierea circuitului
;managerul de defecte , lista de defecte redusa generatorul de vectori de test
( produce vectori de test – apreciaza acoperirea defectelor ).
2) cuprinde un nr de pasi :
pas1 – identificarea setului
defectelor finite --> lista de defecte completa
-unelte utilizate : generator de lista de defecte – una
dintre componentele managerului de defecte ;
pas2 - identificarea setului
minim de defecte finite distincte ; unealta : minimizor de defecte .
pas3 – analiza testabilitatii:
obiectivele acestui pas sunt :
-se estimeaza efortul necesar pt. testarea UUT la
lungimea cuvantului de vector de test , gradul de acoperire al defectelor,
timpul consumat de unitatea centrala ;
-identificarea zonelor dificil de testat
unelte :analizorul de testabilitate
pas4 – se genereaza un set
initial de vectori de test->minimal aleator
pas5 – actualizarea listei
defectelor detectate
Simulatorul
cu defect – pt. toate testele se face o simulare logica ,dupa care se forteaza
o linie la zero , se aplica testul si priveste in punctul de obs. daca nu cumva
se sesizeaza o diferenta fata de master .
pas6 - genereaza un set de
vectori de test pt. a acoperi defectele neacoperite .
-se face de
catre un A.T.P.G.: 1)selectia defectelor finite ,2)generarea vectorului ,
3)actualizarea listei defectelor si a gradului de acoperire
pas7 – minimizarea setului de
vectori de test prin compactare
Clasificarea
A.T.P.G.Generatoarele de teste sunt algoritmi unelte care se pot clasifica dupa
-natura circ.tinta –combinationale si secventiale
- strategia de generare de teste :structurala
,functionala , mixta ,bazata pe simulare ;
-dupa arhitectura gazda :monoprocesor ,paralele si
sisteme distribuite
Clasif ATPG
dupa arhitectura gazda: monoprocesor, paralele si distribuite.
Tehnicile
structurale : au la baza cunoasterea topologiei circuitului.Genereaza vectori de
test prin excitarea si propagarea valorilor logice in circuit. Pt. circ.
combinationale aceasta tehnica A.T.P.G.e foarte des folosita .
Circuite
secventiale –generarea automata de teste bazata pe metoda structurala pt. circ.
secventiale e o sarcina complexa pt. ca :1) necesitaea propagarii valorilor
prin elementele de stare.2) necesitatea manipularii concurente a mai multor
cadre de timp .(unelte : ASIC-Application Specific Integrated Circuit-prin
inserarea unor structuri DfT-Design for testability, in circuit
Tehnici
functionale – exploateaza doar cunostintele referitoare la functia realizata de
circ. fara referire la implementarea reala.Ele manipuleaza modele formale
constand din ecuatii booleene si grafuri de tranzitie a starilor .Daca f indice
g = f indice F atunci avem defect nedetectabil ,iar daca f indice g ¹ f indice F avem defect
detectabil .
Tehnica
mixta structural –functionala .
A.T.P.G. – structurale :avantaje :bune pt. testarea
cailor de date ;exista multe euristici ; dezavantaje :slabe pt. circuite mari .
A.T.P.G. – functionale : avantaje : bune pt.testarea
controlelor;dezavantaje:dimensiunea
circuitului limitata la zeci de bistabile .
Tehnici bazate pe simulare –se bazeaza pe o generare
pseudoaleatoare a vectorilor de test urmata de o ghidare logica sau /si
simulare cu defect.
Avantaje :capabila sa manipuleze
circuite mari ;rezultate bune dar nu optime .
Dezavantaje :nu detecteza
defectele nedetectabile .
Metodele A.T.P.G. pt. circ.combinationale .
-circuitele sunt combinationale
-descrierea la nivel de poarta
-intîrzierea lunga
-defectul e de tip blocat- la
singular
- doar intrarile primare sunt
controlabile
-doar iesirile primare sunt
observabile
Metode algebrice
Sunt bazate pe conceptul de diferenta booleana si
presupun cunoasterea functiei booleene atat pt. circuitul bun cat si pt.
circuitul defect . Moduri de reprezentare:-suma de produse sau produs de sume
si ca BDD ( diagrama de decizie binara ).
Metode
topologice : senzitivitatea caii; PODEM; algoritmul D; FAN.
Selectia : ATPG trebuie sa
estimeze diferite posibilitati pt.:
-selectarea unei linii de
excitare ; selectarea unei combinatii de intrari pentru justificare ;
selectarea unei cai pt. observare ;selectarea unei combinatii de intrari pt. a
senzitiviza calea .
Backtracking si nedetectabilitatea
Este posibil ca intr-un anumit
punct sa nu ramana nici o posibilitate pt. selectie .Doar in situatia in care
toate posibilitatile au fost epuizate defectul poate fi considerat
nedetectabil.
Euristici –eficienta unui ATPG
inseamna capacitatea sa de a prezice la orice selectie calea corecta .In acest
fel este redus nr. de backtracking ATPG-urile mai avansate utilizeaza pt. acest
scop criterii euristice .In practica este limitat nr. maxim de backtrecking pt.
un defect .Daca aceasta limita este depasita defectul este abortat .
Def. Gradul de acoperire al defectelor – un raport dintre
defectele detectate si totalul defectelor .Gradul de acoperire a defectelor
testabile- nr. de defecte detectate ,,/” nr. total ,,-“ cele nedetectabile –
masoara redundanta circuitului .Eficienta defectului : (nr. de defecte
detectate + defectele nedetectabile ) / totalul defectelor - masoara calitatea ATPG.
Senzitivizarea unei cai Excitare – selecteza PI a.î. linia l sa aiba
valoarea v.Propagarea – selecteaza o cale de la sursa defectului la iesirile
primare care propaga defectul si seteaza intrarile primare corespunzatoare
.Verificare – este verificat faptul ca in fazele anterioare conditiile impuse
sunt compatibile .
Def. Booleene . n intrari x1…xn , iesirea
f(x1,xn) ;df (x1, …, xn) / dx1 = f(x1, x2,…,xi, xn) Å f(x1,…,1, …, xn).Proprietati: 1) Daca df/dxi
= 0 Þ f
independenta de x Þ = f(x1, x2,…,xi,…, xn) =
f(x1, …,xi, xn) .2) daca df/dxi = 1 Þ f e dependenta de xisau senzitiva de x . 3)
daca df/dxi =Fi (x1, …xi-1,xi+1, …xn) Þ f dependenta functional de i . 4) df/dxi =
df/dxi 5) df/dxi =df/dxi 6) d2f/dxidxj
= d2f/dxjdxi 7)df/dxi – (¶f/¶xi)*(¶f/¶xq)… 8) df/dxi = x1x2 …xi-1 xi+1…xn , x1x2
…xi-1 xi+1…xn = x , df/dxi = [(x*0)Å(x*1)] = 0Åx = x ; 9) df/dxi = x1x2 …xi-1 xi+1…xn 10) pt. sau exclusiv df/dx + 1 ;11)
d(f*g)/dx= f *(dg/dx) Å g (df/dx) Å (dg/dx) *(df/dx) ; 12) d(fÅg)/dx = df/dx Å dg/dx ; 13) d(f+g)/dx = f
dg /dx Å g (df/dx) Å (dg/dx) *(df/dx)
IEEE1149.1 intructiuni obligatorii:ByPass;Sample/Preload;Extest
iar ceel optionale sunt Intest si Runbist.
Disp logice pt sum modulo 2: comparator de paritate; numarator de tranzitii
si LFSR(registru).
Componetele proiectarii pt X-abilitate: mediul de
ing concurenta a dus la X-ability care contine:diagnozabilitatea, fiabilitatea,
posib de al promova, integrabilitatea,etc.
Principiul
tehnicii boundary-scan: consta in plasarea unei celule de scanare marginala
langa fiecare pin al comp.ei cu scopul de a controla si observa semn la marg
comp.
Niciun comentariu:
Trimiteți un comentariu